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点光谱技术：
天行测量的激光平面度快速测量采用先进的点光谱技术，能够实现高精度的取点和扫描，确保每次测量都能达到精确度要求。
多功能测量：
该设备不仅可测量平面度和高度，还可以测量产品的轮廓，为多种测量需求提供一站式解决方案。
广泛应用：
特别适用于手机行业，如手机中框的平面度和高度测量，以及手机盖板后盖的平面度和弧高测量。
双激光功能：
独特的双激光设计使其可以同时测量两片产品，将测量效率提高了2倍。
四工位夹具设计：
具有四工位夹具，大大节省了放料时间，提高了工作效率。
高精度测量：
保证测量精度高达3μ，确保测量结果的可靠性和准确性。
FL系列型号：FL4030 FL5040